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TESA HITE系列

TESA HITE 400/700，吉馨仪器专业代理对于瑞士tesa测高仪，原装真品，*！

手动式移动，光学尺设计

       适合品管室环境使用，定压量测，快速寻圆直径，中心及Z高低点量测

 TESA HITE 400/700图示：

TESA HITE MAGNA 400/700

防油污，适合现场环境使用，能提升模具制作的效率

常用于传统量测孔中心，槽宽，尺寸量测等作业

TESA-HITE PLUS M 400/700测高仪易于使用，直观的控制面板；1D或2D几何量测量功能；TESA-HITE PLUS M 400/700测高仪大允许误差：(2.5+3L)µm (L为m)，重复性：平面：2d≤1µm，孔：2d≤2µm；测高仪，测高计，高度计，高度仪，TESA测高仪

新的TESA-HITE plus M 400和700源自TESA的技术，多年来因其*性而得到认可，这是保证的价格/性能关系的关键因素。 受到能够依赖其能力的专业人士的广泛赞赏。

TESA-HITE plus M 400和700具有以下主要功能：

&尘颈诲诲辞迟;大应用范围

&尘颈诲诲辞迟;电子装置*保护

&尘颈诲诲辞迟;可防护液体或灰尘颗粒侵入

&尘颈诲诲辞迟;内置空气轴承

&尘颈诲诲辞迟;**的TESA光电测量系统

&尘颈诲诲辞迟;易于使用，直观的控制面板

·1D或2D几何量测量功能

&尘颈诲诲辞迟;自动编程和运行测量循环程序

&尘颈诲诲辞迟;数据分析处理功能

&尘颈诲诲辞迟;全新的符合人体工学设计的控制面板

&尘颈诲诲辞迟;与其它类型TESA测高仪兼容的可选附件

·SCS校准证书已包含在主机价格中

&尘颈诲诲辞迟;真正的瑞士制造

&尘颈诲诲辞迟;大允许误差：(2.5+3L)µm (L为m)

&尘颈诲诲辞迟;重复性：平面：2d≤1µm   孔：2d≤2µm